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上约有 1 项符合电迁移的查询结果， 以下是第 1 - 1 项。 （搜索用时 0.421 秒）
　　在电位器IC上进行的IC失效分析表明，金属梁问题会导致间歇性电学短路。 　　一个八脚小型晶体管封装的商业CMOS数字电位器IC在工作大约1个月后出现了场失效。系统失效分析结果证实了失效机制：制造完成后，塑料封装内部发生金属迁移。引线…
http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-11/20081129020832.htm -- 2008-12-1 0:00:00
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