FSI国际有限公司日前宣布，在上月于以色列、意大利、法国和德国举办知识服务系列研讨会（KSS）上，公司多家客户的专题报告中肯定了FSI清洗技术在芯片制造中对成品率的提高起到了显著的作用。包括意法半导体（STMicroelectronics）、Numonyx B.V.、…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/2008820105136.htm -- 2008-8-20 0:00:00

　　半导体行业正在开发必要的缺陷量测和薄膜量测解决方案，但22 nm技术节点的监测还需开发新的成像套刻目标结构。 　　半导体制造商在向32 nm技术节点迈进时，面临着许多缺陷、薄膜和光刻量测方面的问题。光学缺陷检测工具不能完全检测到45 nm技…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/200887115736.htm -- 2008-8-11 0:00:00

　　近来，各种“后CMOS时代”的器件不断涌现，它们的用途广泛且发展潜力巨大。1针对这些器件的性能、表现学术界已经进行了大量的研讨，但是在器件生产制造以及提升成品率方面的研究却没有得到应有的重视。然而，如果期望在未来10年内这些器件能…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/200887113055.htm -- 2008-8-11 0:00:00

FSI国际有限公司日前宣布，在上月于以色列、意大利、法国和德国举办知识服务系列研讨会（KSS）上，公司多家客户的专题报告中肯定了FSI清洗技术在芯片制造中对成品率的提高起到了显著的作用。包括意法半导体（STMicroelectronics）、Numonyx B.V.、…

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http://article.sichinamag.comhttp://webcast.sichinamag.com/1/Content.aspx -- 2008-6-6 0:00:00

　　缺陷图样识别（SPR）技术可以加速对良率损失问题的矫正。其面临的最大挑战在于如何配置SPR系统才能高效地处理现代fab所产生的海量数据，并对数据加以组织以提供快速一致的解决方案。 　　快速识别并矫正良率损失问题对于维持半导体制造行业…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-05/200852082013.htm -- 2008-5-8 0:00:00

http://article.sichinamag.comhttp://webcast.sichinamag.com/1/Content.aspx -- 2008-4-28 0:00:00

高峰，上海华虹NEC Fab1副厂长、Fab1工程部高级经理。高峰2004年加入华虹NEC电子有限公司，初担任Fab1 工程1部部门经理，06年担任Fab1工程部高级经理，主管Fab1各工程部门，并领导新工艺开发及转移、工艺优化、成品率提升、Fab生产效率提高和成…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-04/2008425101301.htm -- 2008-4-25 0:00:00

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-04/200843093919.htm -- 2008-4-8 0:00:00

4月7日消息，据下游厂商的业界消息人士称，海力士半导体公司66纳米工艺产品成品率问题导致3000万块1Gb DDR2芯片存在缺陷，相当于其产量的10%。 据国外媒体报道称，海力士否认存在这一问题，但拒绝发表进一步的评论。 海力士从去年第四季度开始采…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-04/200847012919.htm -- 2008-4-7 0:00:00

　　IC 制造商在提高盈利水平、缩短产品周期的同时，面临着不断增加的制造复杂性和成品率的压力。如何在重要工艺步骤之后的生产线中集成缺陷检测和管理的功能？如何在更严苛的设计规则下分类缺陷？这些都是困扰Fab的难题。KLA-Tencor中国技术总…

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　　成品率预测是可制造性设计（DFM）的基础之一，但它还远不止于此。IBM系统和技术群300mm半导体运营副总裁Dan Armbrust说：“我们精确预测成品率的能力就是我们的经济模式。”Armbrust是SEMICON West 2007成品率论坛讨论DFM现状的三位参与者之…

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日本网屏的半导体产品公司开发出了可应用于支持300mm晶圆的批量式清洗设备“FC-3100”的两款新装置——新搬运机构和新干燥系统（HiLPD）。这两款装置能够以高成品率进行全球最快的650枚/h的处理。 导入FC-3100的新搬运机构能够通过缩短待机时间，…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2007-11/20071126033915.htm -- 2007-11-26 0:00:00

　　本文介绍了一种适合大生产的用于确定成品率变化的影响的方法，它可以用于多种产品和芯片尺寸。 　　许多fab认为基于芯片（die-based）的方法很难适用于包含多种芯片的版图和混合的（mixed）缺陷分布，所以不用这种方法来监测成品率的影响，而代…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2007-10/20071013045704.htm -- 2007-10-16 0:00:00

FLANDERS, NJ (September 17, 2007)—Rudolph Technologies, Inc. (NASDAQ: RTEC), a worldwide leader in high-performance process control metrology, defect inspection and data analysis for the semiconductor manufacturing industry, announced today that two 300 mm fabs have installed Rudolph's DMSVisionT…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2007-09/2007918115344.htm -- 2007-9-18 0:00:00