据市场研究公司VLSI Research最新发表的研究报告称，半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率（13.9%）的一半。这篇报告警告称，2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路晶圆探针…

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据市场研究公司VLSI Research最新发表的研究报告称，半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率（13.9%）的一半。这篇报告警告称，2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路晶圆探针…

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Cascade Microtech已经开发出两种Pyramid参数探针卡可用于65和45 nm及以下工艺，进行单次通过的高性能DC和RF测量。这两种探针卡可以用于30 μm2的测试焊盘。采用了MicroScrub技术，可以获得一致并且更小的划痕和更均匀的标记，还可以降低造成晶圆污…

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　　总部位于美国南加州的美博科技（Microprobe）在探针卡领域拥有着30多年的丰富经验，自1973年成立以来，一直专注于研发和制造高品质的晶圆测试探针卡。 　　据美博科技（苏州）有限公司董事总经理殷岚勇介绍，目前公司ApolloTM垂直探针卡Fx-80…

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新加坡Ellipsiz Ltd.称旗下子公司SV Probe在越南新开了一家探针卡工厂。 该工厂占地4000平方米位于Binh Duong Province的VSIP（Vietnam-Singapore Industrial Park），距胡志明市约20公里。 该工厂于今年9月开始生产，是目前SV Probe最大的探针卡制造工厂，具备制造…

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美国晶圆探针卡制造商FormFactor日前迈出开拓亚洲市场的第一步，投资约2亿美元在新加坡建厂。 该公司在一份声明中表示，新建的工厂占地将达30万平方英尺，预计2009年全线投入生产，届时将雇佣1000名左右员工。 FormFactor称在亚洲新建工厂主要是瞄…

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上游晶圆代工厂投片满载，整合组件制造厂（IDM）又拉高晶圆测试（wafer sorting）委外代工比重，台湾四大晶圆测试厂福雷电、京元电、欣铨、台曜电等，目前订单能见度已排到十月，然因晶圆测试所需的晶圆探针卡（probe card）产能大缺，探针卡又进入…

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　　PH150XP型晶圆探针卡主要用于测试尺寸更小、密度更小的DRAM器件，每个晶圆测试用四次或更多的向下接触操作就可完成。该探针卡采用的是微螺旋接触探针设计，可以容纳超过25,000个接触探针。采用结构增强技术可以获得更好的共面性和更高的…

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FormFactor宣布其Takumi参数化晶圆探针卡达成一项重大里程碑，获得全球各地20家组件制造领导厂商采用。Takumi探针卡是一款先进的探测解决方案，协助IC制造商进行在线与线端的参数化测试。 Takumi探针卡将FormFactor的探针卡技术与专业领域扩展至半…

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　　APB6800是用于300 mm探针卡阵列的测试解决方案。具有一个直径12英寸的碳化钨测量卡盘，以及双相机和可伸展的样品台，可以让300 mm的探针阵列向下触底而不会过度逼近卡盘表面。采用可选的软件或FET驱动器，该测试系统的测试能力可扩展至12,0…

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Cascade Microtech, Inc.日前宣布，芯片制造商Peregrine Semiconductor Corporation近日订购了公司价值数百万美元的Pyramid Probbe(R)探针卡，用于其先进RF COMS集成电路生产。据悉，订购的产品目前已经开始出货。 Peregrine方面称，Cascade Microtech的探针卡产品…

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FormFactor推出Harmony XP探针卡，扩增其Harmony系列全区域12吋晶圆探针卡产品阵容，先进的晶圆侦测解决方案支持高密度行动通讯、一般商品以及绘图产品专用DRAM组件，为每粒晶圆带来最低整体测试成本。 专为这些装置之高标准技术挑战而量身设计…

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晶圆探针卡制造商FormFactor, Inc.日前宣布，Hynix Semiconductor Inc.（海力士半导体）最近向FormFactor订购了数百万美元的Harmony OneTouch探针卡。这些产品将于今年第一季度开始出货，将被用于测试Hynix最新的60nm NAND闪存晶圆。据Hynix表示，公司从数…

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　　存储器件持续不断的降价压力要求降低测试成本。很多公司通过同时测试更多的器件来提高吞吐率。过去的几年里，测试探针卡的发展允许平行测试更多的器件——同时可测的待测器件（DUT）数量从32到64到128不断上升——减少了测试平台的数目。…

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　　SUSS MicroTec AG has announced the newest member of its renowned II Probe® family, the II Probe Card. This new solution integrates the unique II Probe technology into an RF probe card specifically designed for production test. 　　As RF and microwave devices become more complex and their operating frequenci…

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