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新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司，日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7.1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就…
http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-07/2008729014901.htm -- 2008-7-29 0:00:00
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新兴测量需求解决方案的领导者吉时利仪器公司（NYSE:KEI），宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入 4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内…
http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2007-10/20071023032007.htm -- 2007-10-23 0:00:00
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4200-SCS型半导体表征系统带有脉冲I-V（PIV）封装，可以对器件进行精确建模和参数提取。该系统可以用于晶圆级测试、长期可靠性测试、失效分析、工艺监控和65 nm节点及以下工艺采用的高k材料诊断中。除了具有超短脉冲的测试能力之外，该系统…
http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2006-08/200686043541.htm -- 2006-8-8 0:00:00
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