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上约有 1 项符合程式优化的查询结果， 以下是第 1 - 1 项。 （搜索用时 0.734 秒）
　　本文介绍了一种明场(Bright Field) 晶片检测仪程式设置的新方法，该方法可有效缩短程式设置时间，并改善程式质量。传统的明场程式优化工艺需要在明场检测仪与SEM检查工具之间反复调整若干检测参数。现今的IC制造厂不仅要求“一步到位”，而且需要…
http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-05/200852082754.htm -- 2008-5-4 0:00:00
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