本文利用ISMI探针卡CoO模型，分析几个真实的案例，得出降低产品生命期内测试成本的最佳方法。晶圆探针测试成本通常集中在探针卡和探针卡的非重复性工程（NRE）费用的显而易见成本上，本文将指出其它可显著降低晶圆探针测试成本的重要因素。利…

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据市场研究公司VLSI Research最新发表的研究报告称，半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率（13.9%）的一半。这篇报告警告称，2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路晶圆探针…

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据市场研究公司VLSI Research最新发表的研究报告称，半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率（13.9%）的一半。这篇报告警告称，2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路晶圆探针…

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Cascade Microtech已经开发出两种Pyramid参数探针卡可用于65和45 nm及以下工艺，进行单次通过的高性能DC和RF测量。这两种探针卡可以用于30 μm2的测试焊盘。采用了MicroScrub技术，可以获得一致并且更小的划痕和更均匀的标记，还可以降低造成晶圆污…

http://article.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-04/2008429041539.htm -- 2008-4-29 0:00:00

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　　英特尔公司技术战略部门，材料研究组经理Michael Garner，在2007年国际纳电子表征与测量前沿会议（2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics）上列举了在纳米科技时代测量技术需要克服的几个障碍。1 　　Garner…

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　　总部位于美国南加州的美博科技（Microprobe）在探针卡领域拥有着30多年的丰富经验，自1973年成立以来，一直专注于研发和制造高品质的晶圆测试探针卡。 　　据美博科技（苏州）有限公司董事总经理殷岚勇介绍，目前公司ApolloTM垂直探针卡Fx-80…

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　　300J是一款由马达驱动，控制杆操纵，用于300 mm晶圆应用的探针台。该系统采用马达驱动来实现对探针台、倾角、平面和显微镜的手动控制。该探针台的特点是精选的动态高、低速范围，可以提供高分辨率的精确定位和对300 mm范围的快速扫描。 Micro…

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新加坡Ellipsiz Ltd.称旗下子公司SV Probe在越南新开了一家探针卡工厂。 该工厂占地4000平方米位于Binh Duong Province的VSIP（Vietnam-Singapore Industrial Park），距胡志明市约20公里。 该工厂于今年9月开始生产，是目前SV Probe最大的探针卡制造工厂，具备制造…

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美国晶圆探针卡制造商FormFactor日前迈出开拓亚洲市场的第一步，投资约2亿美元在新加坡建厂。 该公司在一份声明中表示，新建的工厂占地将达30万平方英尺，预计2009年全线投入生产，届时将雇佣1000名左右员工。 FormFactor称在亚洲新建工厂主要是瞄…

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上游晶圆代工厂投片满载，整合组件制造厂（IDM）又拉高晶圆测试（wafer sorting）委外代工比重，台湾四大晶圆测试厂福雷电、京元电、欣铨、台曜电等，目前订单能见度已排到十月，然因晶圆测试所需的晶圆探针卡（probe card）产能大缺，探针卡又进入…

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　　PH150XP型晶圆探针卡主要用于测试尺寸更小、密度更小的DRAM器件，每个晶圆测试用四次或更多的向下接触操作就可完成。该探针卡采用的是微螺旋接触探针设计，可以容纳超过25,000个接触探针。采用结构增强技术可以获得更好的共面性和更高的…

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FormFactor宣布其Takumi参数化晶圆探针卡达成一项重大里程碑，获得全球各地20家组件制造领导厂商采用。Takumi探针卡是一款先进的探测解决方案，协助IC制造商进行在线与线端的参数化测试。 Takumi探针卡将FormFactor的探针卡技术与专业领域扩展至半…

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据Reed-Electronics网站报道，精密电气测量与测试设备厂商Cascade Microtech日前宣布与一家亚洲存储器制造商签订了一笔据称是公司23年以来最大的单笔探针台订单。Cascade Microtech表示，这笔超过400万美元的S300晶圆探针台设备订单显示了公司在存储器…

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　　APB6800是用于300 mm探针卡阵列的测试解决方案。具有一个直径12英寸的碳化钨测量卡盘，以及双相机和可伸展的样品台，可以让300 mm的探针阵列向下触底而不会过度逼近卡盘表面。采用可选的软件或FET驱动器，该测试系统的测试能力可扩展至12,0…

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